天线的天线辐射特性测量法分类

天线辐射特性测量方法如图6所示。远场法可分为室外场、室内场及紧缩场；近场法可分为平面、球面、柱面近场测试法。
1．远场方法
远场方法又称为直接法，所得到的远场数据不需要计算和后处理就是方向图。但是它往往需要很长的距离才能测试天线的特性，所以大多数的远场方法都在室外测试场地进行。室外场又分高架场和斜架场，统称为自由空间测试场，主要缺点是容易受外界的干扰和场地反射的影响。远场方法如果在暗室里进行就称为室内场。因为所需空间很大，室内场往往成本高。
紧缩场在分类上是属于远场测试场，但是它不用很大的测试场，而是用一个抛物面天线和馈源，馈源放在抛物面天线的焦点区域，经过抛物面反射的波是平面波。这样被测天线就在平面波区域。紧缩场设备的加工精度要求很高，改变工作频段需要更换馈源，费用较大。
2．近场方法
近场测量技术就是在天线的近场区的某一表面上采用一个特性已知的探头来取样场的幅度和相位特性，通过严格的数学变换而求得天线的远场辐射特性的技术。根据取样表面的形状，近场测试场分为3种，即平面测试场、柱面测试场和球面测试场。
近场测量技术的主要优点是：所需要的场地小，可以在微波暗室内进行高精度的测量，免去了建造大型微波暗室的困难。测量受周围环境的影响极小，保证全天候都能顺利进行。测量的信息量大，通过在近场区的某一表面的取样可以精确地得出天线任意方向的远场幅度相位和极化特性。近场测量技术将在第7章详细论述。

图6天线辐射特性测量方法分类